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電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產品概述 多功能原子力顯微鏡平臺，滿足納米級測量的需求 原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。 納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM). 倒置光學顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。
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